网站地图立仪科技 - 光谱共焦位移传感器

深圳立仪科技有限公司

Shenzhen LightE-Technology Co.,Ltd

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线激光位移传感器3D工业视觉传感器

LS系列3D智能传感器 3D成像算法在芯片集成，实现高速度、高性能、高精准测量重复精度可达0.1um 产品的性能指标优异，实现进口品牌精准替代 LS系列产品应用场景产品广泛应用于消费电子制造、新能源锂电、光伏产业、汽车制造、钣金加工、木材加工、食品饮料等领域标准连接器，满足IP67防护等级防护等级达到IP67，防护灰尘进入，防护短暂浸泡超高速 2500帧全视野范围采样速率，可达56000帧小景深视野采样速率可同时输出深度图和亮度图，满足高速产线的检测要求高精度测量 4K物理轮廓点数X方向，深度图模式下X方向任意点间距重采样，可达8K点数据输出每轮廓。定制化的系列线激光模组可根据用户场景需求采用不同的激光波长405nm蓝紫光中小视野可获得更高精度
光谱仪（规划中）
C2-TP02 膜厚仪

立仪科技基于公司特有的一款光谱共焦位移传感器，并采用超高精密运动平台驱动其进行在线扫描，开发出一种非接触式、无损的、且快速的光学膜厚测量系统。可以用于测量各种薄膜厚度、油墨银浆厚度、LTCC/MLCC湿膜、厚膜电阻行业膜厚、太阳能行业膜厚、透明胶水厚度等，专门解决工业膜厚测量的问题，改善工艺和提高生产效率和质量。
HM-S100半自动检测系统

1、非接触光学测量系统。 2、应对各种材质，重复测量精度≦0.5µm。 3、高速采样，最快周期20µs。 4、强大的CPK统计功能。 5、吸附系统及高精度位移系统。 6、测量轮廓、断差、槽深、高度等。
白光干涉仪

该产品由膜厚仪主机、上位机 PC 软件、光纤组成。用一束准单色平行光照射多层薄膜，光波会在第 1 到 n 层之间来回多次折射、反射进而形成多个相干光束。这些相干光束进行相干叠加后，携带多层薄膜的相干信号并沿原路返回。不同波长的准单色光照射薄膜后，携带的干涉信号不一样。如果用一束含有多种波长的准单色光照射薄膜后，提取各个波段的干涉信号，通过 OCD 自主知识产权的算法进行反演计算，便可获得每一层薄膜材料...
点光谱共焦位移传感器G系列

G系列控制器是基于光谱共焦技术，并采用先进的FPGA+CPU硬件架构等技术自研而成的创新型产品。结合高强度LED光源、创新的棱镜光谱仪专利设计、高灵敏度探测器和FPGA高速处理，实现超高实时性、超高集成度、接口丰富等特色产品属性。
光谱共焦位移传感器 D8A29 系列镜头

直径8mm，小巧，可满足绝大多数安装场景相比D8A18，此系列光斑更小，精度更好，角度更大，可测更大角度被测物的尺寸特征
光谱共焦位移传感器 D15A20 系列镜头

直径15mm，小尺寸可满足绝大多数安装场景测量角度适中，量程不大，能满足大部分零件的高精度测量此款拥有两款90°出光版本，-90版本可测量被测物水平方向的尺寸，而-90B版本则是进一步减小了长度尺寸，能满足更苛刻的空间安装需求
光谱共焦位移传感器 D40A48 系列镜头

直径40mm，适中尺寸可满足大多数安装场景小光斑特性，分辨率和测量精度为偏上级角度特性提升到±48°，可以最大程度上满足大角度应用场景，比如，圆弧面扫描应用等

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