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Shenzhen LightE-Technology Co.,Ltd
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C2-TP02 膜厚仪
立仪科技基于公司特有的一款光谱共焦位移传感器,并采用超高精密运动平台驱动其进行在线扫描,开发出一种非接触式、无损的、且快速的光学膜厚测量系统。可以用于测量各种薄膜厚度、油墨银浆厚度、LTCC/MLCC湿膜、厚膜电阻行业膜厚、太阳能行业膜厚、透明胶水厚度等,专门解决工业膜厚测量的问题,改善工艺和提高生产效率和质量。
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