光谱共焦的两种测量模式是什么呢?光谱共焦测量技术通过分析不同波长光在特定表面的聚焦位置，实现高精度的尺寸测量和微观形貌分析。根据这一测量原理，特定波长的光可以聚焦在样品的前端，而对于透明材料样品，两种不同波长的光可以聚焦于样品的正负两面。下面深圳立仪光谱共焦厂家就与大家说说光谱共焦的两种测量模式是什么：

　　1.厚度测量模式

　　在测量玻璃和透镜等透明样品时，两束不同波长的光束聚焦于样品的正负表面，引入样品的折射率参数后，可以计算出样品的厚度。与游标卡尺等传统的接触测量工具相比，光谱共焦测量具有所有非接触光学测量的优点，并且具有通过单边测量可以获得样品厚度的特点。

　　折射系数直接影响厚度测量数据的精度，因此在测量开始时要确定样品的折射率，折射率可以指同一种材料的折射率，但如果要获得较高精度的厚度测量结果，就需要用折射率仪来测量样品的折射率。

　　2.位移测量模式

　　位移测量模式输出Z方向的高度值，引入XY的位移后可以直接输出点云坐标。这一模式与三坐标、结构光和激光三角测量方法一致。不同的是光谱共焦支持反射表面的测量，具有亚微米测量精度。

　　位移测量模式适用于大多数精密尺寸测量场景，为点、线、面测量提供了多种采样选择。点测量适合于测量物体振动和液体高度，输出不同时间序列的Z方向值以辅助分析。直线测量可以连续记录移动样本表面的Z方向值，可用于故障差检测和二维尺寸分析。表面测量提供了完整的样品表面三维形貌数据，可进行全面分析，包括粗糙度和其他项目。

　　这就是光谱共焦的两种测量模式的介绍说明。光谱共焦的两种测量方式可以在软件界面上自由切换，而无需重新启动设备或系统。因此，无论是样品表面尺寸测量、透明材料厚度测量，还是同时获取透明样品的外观尺寸和厚度信息，光谱共焦测量技术都可以冷静地处理。深圳立仪科技有限公司一家专业生产销售位移传感器,激光位移传感器,角度位移传感器,光谱共焦传感器的公司，有需要的朋友们可来电咨询立仪光纤同轴位移传感器厂家。欢迎您的来电!